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李军辉, 韩雷, 钟掘. 楔焊键合分离界面特性及阻抗分析[J]. 焊接学报, 2005, (6): 21-24.
引用本文: 李军辉, 韩雷, 钟掘. 楔焊键合分离界面特性及阻抗分析[J]. 焊接学报, 2005, (6): 21-24.

楔焊键合分离界面特性及阻抗分析

  • 摘要: 为认识超声键合机理,设计粗铝线楔焊键合试验,对分离的楔焊界面进行扫描电镜和EDS能谱仪测试分析,用GDS-820示波器采集电信号分析压电陶瓷(PZT)驱动的输入阻抗特性。结果表明,超声键合的界面模式形如脊皱圆环,中心和外边是未结合的摩擦痕,脊皱构成强度,相同参数条件下,一焊脊皱峰、输入阻抗大于二焊,一焊键合强度高于二焊。PZT的输入阻抗分析的结论与界面微结构判断一致。

     

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