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焊接时间及焊接温度对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头性能的影响

申兵伟 徐明玥 杨尚荣 刘国化 谢明 段云昭

申兵伟, 徐明玥, 杨尚荣, 刘国化, 谢明, 段云昭. 焊接时间及焊接温度对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头性能的影响[J]. 焊接学报, 2023, 44(3): 77-86. doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001
引用本文: 申兵伟, 徐明玥, 杨尚荣, 刘国化, 谢明, 段云昭. 焊接时间及焊接温度对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头性能的影响[J]. 焊接学报, 2023, 44(3): 77-86. doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001
SHEN Bingwei, XU Mingyue, YANG Shangrong, LIU Guohua, XIE Ming, DUAN Yunzhao. Effect of welding time and temperature on properties of Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joints[J]. TRANSACTIONS OF THE CHINA WELDING INSTITUTION, 2023, 44(3): 77-86. doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001
Citation: SHEN Bingwei, XU Mingyue, YANG Shangrong, LIU Guohua, XIE Ming, DUAN Yunzhao. Effect of welding time and temperature on properties of Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joints[J]. TRANSACTIONS OF THE CHINA WELDING INSTITUTION, 2023, 44(3): 77-86. doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001

焊接时间及焊接温度对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头性能的影响

doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001
基金项目: 国家自然科学基金资助项目(51961016);国家科技部“科技助力经济2020”国家重点项目(202002AB080001-1);云南省重大科技专项资助项目(202002AB080001-1-6,202002AB080001-1);云南省科技人才与平台计划资助项目(202105AC160002,202105AE160027)
详细信息
    作者简介:

    申兵伟,硕士;主要研究方向为贵金属焊料;Email: 2265489536@qq.com

    通讯作者: 谢明,博士,研究员;Email: powder@ipm.com.cn.
  • 中图分类号: TG 454

Effect of welding time and temperature on properties of Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joints

  • 摘要: 分别在不同焊接时间和不同焊接温度下制备了Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头,采用扫描电子显微镜(SEM)、万能拉伸试验机、超声波成像无损探伤检测仪等测试手段,研究了焊接时间(1 ~ 9 min)和焊接温度(210 ~ 290 ℃)对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头微观结构和力学性能的影响. 结果表明,在焊接过程中,Cu元素扩散到焊接界面处,形成了(Cu6Sn5, Cu3Sn)界面层,同时发现生成的Ag3Sn相能够抑制界面层的生长. 随着焊接时间的延长或焊接温度的升高,反应层变厚,抗剪强度先增大后减小. 对焊接接头断口形貌分析发现,焊接接头的断裂由Bi相颗粒及Cu6Sn5颗粒共同作用. 焊接接头的断裂发生在IMC/焊料一侧,Bi相颗粒及Cu6Sn5颗粒共同影响着接头的抗剪强度. 此外,当焊接时间为3 min、焊接温度为230 ℃时,接头的钎着率最大,为99.14%,抗剪强度达到最大值,为51.8 MPa.
  • 图  1  Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接示意图(mm)

    Figure  1.  Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joint diagram

    图  2  Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接界面分析(T = 210 ℃, t = 3 min)

    Figure  2.  Analysis of Sn35Bi0.3Ag/Cu welding interface at 210 ℃ and 3 min. (a) microscopic structure; (b) EDS analysis of zone A; (c) EDS analysis of zone B; (d) EDS analysis of zone C

    图  3  焊接过程中IMC层的微观结构演变和生长行为

    Figure  3.  Microstructure evolution and growth behavior of IMC layers during welding process

    图  4  210 ℃不同焊接时间的Sn35Bi0.3Ag/Cu接头横截面SEM图像

    Figure  4.  SEM images of cross section of Sn35Bi0.3Ag/Cu joints with different welding time at 210 °C. (a) 1 min; (b) 2 min; (c) 3 min; (d) 5 min; (e) 7 min; (f) 9 min

    图  5  焊接时间与焊接界面层厚度的关系

    Figure  5.  Relationship between welding time and welding interface layer thickness

    图  6  焊接时间3 min不同焊接温度下的Sn35Bi0.3Ag/Cu接头横截面SEM图像

    Figure  6.  SEM images of Sn35Bi0.3Ag/Cu joints at different welding temperatures for 3 min. (a) 210 ℃; (b) 230 ℃; (c) 250 ℃; (d) 270 ℃; (e) 290 ℃

    图  7  焊接温度与焊接界面层厚度的关系

    Figure  7.  Relationship between welding temperature and welding interface layer thickness

    图  8  焊接时间与焊接接头抗剪强度的关系

    Figure  8.  Relationship between welding time and shear strength of welded joints

    图  9  焊接温度与焊接接头抗剪强度的关系

    Figure  9.  Relationship between welding temperature and shear strength of welded joints

    图  10  210 ℃不同焊接时间下Sn35Bi0.3Ag/Cu接头的断口形貌

    Figure  10.  Fracture morphology of Sn35Bi0.3Ag/Cu joints welded at 210 ℃ for different time. (a) 1 min; (b) 2 min; (c) 3 min; (d) 5 min; (e) 7 min; (f) 9 min

    图  11  焊接时间3 min不同焊接温度下Sn35Bi0.3Ag/Cu接头的断口形貌

    Figure  11.  Fracture morphology of Sn35Bi0.3Ag/Cu joints at different welding temperatures and welding time of 3 min. (a) 210 ℃; (b) 230 ℃; (c) 250 ℃; (d) 270 ℃; (e) 290 ℃

    图  12  焊接温度210 ℃不同焊接时间时Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的超声无损检测图像

    Figure  12.  Ultrasonic nondestructive testing images of Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joints with different welding time at 210 ℃. (a) 1 min; (b) 2 min; (C) 3 min; (d) 5 min; (e) 7 min; (f) 9 min

    图  13  焊接时间与焊接接头钎着率的关系

    Figure  13.  Relationship between welding time and brazing rate of welded joints

    图  14  焊接时间3 min不同焊接温度下的Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的超声无损检测图像

    Figure  14.  Ultrasonic nondestructive testing images of Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joints at different welding temperatures for welding time of 3 min. (a) 210 °C; (b) 230 °C; (c) 250 °C; (d) 270 °C; (e) 290 °C

    图  15  焊接温度与焊接接头钎着率的关系

    Figure  15.  Relationship between welding temperature and brazing rate of welded joints

    表  1  Sn35Bi0.3Ag合金主要化学成分(质量分数,%)

    Table  1.   Compositions of Sn35Bi0.3Ag alloy soder

    SnBiAg其他
    64.0 ~ 65.035.0 ~ 35.50.3 ~ 0.40 ~ 0.2
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    表  2  材料的力学性能

    Table  2.   Properties of the materials

    材料熔点Tm/℃密度ρ1/(g·cm−3)电阻率ρ2/(μΩ·cm)硬度H/HV抗拉强度Rm/MPa断后伸长率δ(%)
    Sn35Bi0.3Ag177.48.111223.068.024.5
    Cu1 084.98.921.69343 ~ 36922040 ~ 50
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    表  3  焊接时间参数的设置

    Table  3.   Setting of welding time parameters

    预热温度T1/℃预热时间t1/min焊接温度T/℃焊接时间t/min
    12012101, 2, 3, 5, 7, 9
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    表  4  焊接温度参数的设置

    Table  4.   Setting of welding temperature parameters

    预热温度T1/℃预热时间t1/min焊接时间t/min焊接温度T/℃
    12013210, 230, 250, 270, 290
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    表  5  不同焊接时间下钎着率与抗剪强度的关系

    Table  5.   Relationship between brazing rate and shear strength at different welding times

    焊接温度t/min钎着率K(%)抗剪强度Rτ/MPa
    197.430.0
    297.542.2
    398.950.4
    594.546.0
    793.741.6
    992.726.3
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    表  6  不同焊接温度下钎着率与抗剪强度的关系

    Table  6.   Relationship between brazing rate and shear strength at different welding temperatures

    焊接温度T/℃钎着率K(%)抗剪强度Rτ/MPa
    21098.9250.4
    23099.1451.8
    25098.4945.8
    27096.5835.0
    29090.3629.7
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出版历程
  • 收稿日期:  2022-04-18
  • 网络出版日期:  2023-02-28
  • 刊出日期:  2023-03-25

焊接时间及焊接温度对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头性能的影响

doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001
    基金项目:  国家自然科学基金资助项目(51961016);国家科技部“科技助力经济2020”国家重点项目(202002AB080001-1);云南省重大科技专项资助项目(202002AB080001-1-6,202002AB080001-1);云南省科技人才与平台计划资助项目(202105AC160002,202105AE160027)
    作者简介:

    申兵伟,硕士;主要研究方向为贵金属焊料;Email: 2265489536@qq.com

    通讯作者: 谢明,博士,研究员;Email: powder@ipm.com.cn.
  • 中图分类号: TG 454

摘要: 分别在不同焊接时间和不同焊接温度下制备了Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头,采用扫描电子显微镜(SEM)、万能拉伸试验机、超声波成像无损探伤检测仪等测试手段,研究了焊接时间(1 ~ 9 min)和焊接温度(210 ~ 290 ℃)对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头微观结构和力学性能的影响. 结果表明,在焊接过程中,Cu元素扩散到焊接界面处,形成了(Cu6Sn5, Cu3Sn)界面层,同时发现生成的Ag3Sn相能够抑制界面层的生长. 随着焊接时间的延长或焊接温度的升高,反应层变厚,抗剪强度先增大后减小. 对焊接接头断口形貌分析发现,焊接接头的断裂由Bi相颗粒及Cu6Sn5颗粒共同作用. 焊接接头的断裂发生在IMC/焊料一侧,Bi相颗粒及Cu6Sn5颗粒共同影响着接头的抗剪强度. 此外,当焊接时间为3 min、焊接温度为230 ℃时,接头的钎着率最大,为99.14%,抗剪强度达到最大值,为51.8 MPa.

English Abstract

申兵伟, 徐明玥, 杨尚荣, 刘国化, 谢明, 段云昭. 焊接时间及焊接温度对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头性能的影响[J]. 焊接学报, 2023, 44(3): 77-86. doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001
引用本文: 申兵伟, 徐明玥, 杨尚荣, 刘国化, 谢明, 段云昭. 焊接时间及焊接温度对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头性能的影响[J]. 焊接学报, 2023, 44(3): 77-86. doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001
SHEN Bingwei, XU Mingyue, YANG Shangrong, LIU Guohua, XIE Ming, DUAN Yunzhao. Effect of welding time and temperature on properties of Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joints[J]. TRANSACTIONS OF THE CHINA WELDING INSTITUTION, 2023, 44(3): 77-86. doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001
Citation: SHEN Bingwei, XU Mingyue, YANG Shangrong, LIU Guohua, XIE Ming, DUAN Yunzhao. Effect of welding time and temperature on properties of Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joints[J]. TRANSACTIONS OF THE CHINA WELDING INSTITUTION, 2023, 44(3): 77-86. doi: 10.12073/j.hjxb.20220418001
    • 随着电子工业的快速发展,多功能化和小型化成为了当今电子器件发展的主要趋势. 因此,电子封装元器件对焊点的要求越来越高,焊点的尺寸也越来越小[1]. 在此背景下,低熔点电路互连材料成为了研究的热点. 传统的Sn-37Pb焊料因其熔点低(183 ℃)、润湿性好、价格低廉等优良特性而被广泛应用于电子封装领域[2]. 但是,由于Sn-37Pb焊料对人体神经有害,且随着人们环保意识的增强,铅的使用量已经大大减少. 因此,研发一种能够取代Sn-37Pb焊料合金的新型低温无铅焊料已刻不容缓.

      在目前研制的低温无铅焊料中,Sn-Bi基低温无铅焊料具有熔点低(138 ℃)、成本少、抗剪强度高等优点,广泛应用于高频头、柔性板、电子产品封装和通孔技术组件等低温焊接工艺中[3]. 研究表明,Sn-58Bi焊料比Sn-37Pb焊料、Sn-3.0Ag焊料具有更高的抗剪强度[4],而添加Ag, Ce等元素可以提高其抗剪强度[5-6],添加La, Ni, In等元素可以改善其润湿性能[7-8].

      目前,许多学者已对Sn-Bi基低温无铅焊料进行了大量的研究,但焊接工艺参数对Sn-Bi基低温无铅焊料界面反应和力学性能的影响却鲜有报道. 由于Sn35Bi合金焊料的熔点(178 ℃)接近于传统的Sn-37Pb合金焊料,并且添加0.3%质量分数的Ag元素可以提高其抗蠕变性、减少焊料中Bi的偏析[9]. 因此,文中使用Sn35Bi0.3Ag合金为焊料,以纯Cu片为基底,研究了焊接工艺参数对Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头界面反应、微观结构、钎着率和力学性能的影响. 通过检测抗拉强度(UTS)来评估力学性能,并分析焊接接头的显微组织及超声无损检测结果来确定焊接参数对焊接性能的影响.

    • 试验所用的Sn35Bi0.3Ag低温无铅焊料由云南锡业有限公司提供,其主要成分见表1. 其固相线和液相线温度分别为140.6 ℃和177.4 ℃. 将其加工成尺寸为15 mm × 6 mm × 0.5 mm的薄片状,以方便于焊接需求. 采用纯Cu片为基板,其加工尺寸为50 mm × 15 mm × 1 mm. Sn35Bi0.3Ag焊料和Cu基底的基本物理力学性能见表2.

      表 1  Sn35Bi0.3Ag合金主要化学成分(质量分数,%)

      Table 1.  Compositions of Sn35Bi0.3Ag alloy soder

      SnBiAg其他
      64.0 ~ 65.035.0 ~ 35.50.3 ~ 0.40 ~ 0.2

      表 2  材料的力学性能

      Table 2.  Properties of the materials

      材料熔点Tm/℃密度ρ1/(g·cm−3)电阻率ρ2/(μΩ·cm)硬度H/HV抗拉强度Rm/MPa断后伸长率δ(%)
      Sn35Bi0.3Ag177.48.111223.068.024.5
      Cu1 084.98.921.69343 ~ 36922040 ~ 50

      焊接前,先将Cu板进行表面打磨处理,再和活性焊料分别置于酒精中超声波清洗5 min,以除去表面油污和灰尘.将Cu基板与焊料在加热平台放置好,焊接示意图如图1所示. 焊接时,先将松香助焊剂置于铜板中心位置,以保证去除Cu基底的氧化膜,提高焊料的润湿性及焊接性能. 之后,将Cu板放在120 ℃的加热平台上预热1 min,加热到要求温度,保温达到预设的时间后关闭加热平台电源,冷却至常温,焊接完成. 通常,焊接温度一般要比金属熔点温度高30 ~ 40 ℃[10]. 因此,文中先以210 ℃、不同焊接时间(1, 2, 3, 5, 7, 9 min)进行焊接,筛选出最佳焊接时间后,再以不同焊接温度(210, 230, 250, 270, 290 ℃)进行焊接,研究焊接时间及焊接温度对焊接性能的影响.

      图  1  Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接示意图(mm)

      Figure 1.  Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joint diagram

      焊接完成后,采用S100型超声波成像无损检测仪,检测Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的钎着率,并根据所得图形对可能存在的缺陷部位进行定位和线切割,之后将样品嵌入环氧树脂中,然后进行机械研磨和抛光,以观察焊接接头微观结构. 采用S-3400N型扫描电子显微镜(SEM)对焊接接头微观组织进行观察,并使用能谱分析仪(EDS)对焊缝界面进行分析,确定焊缝处的微观组织形貌及组成元素. 使用精密电子万能材料试验机(岛津AG-X100KN)测试焊接接头的力学性能,使用SEM和Photoshop软件中的测量工具确定金属间化合物(IMC)的厚度.

    • 图2所示,在焊接温度为210 ℃、焊接时间3 min时,Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接界面形成了明显的焊接结构,表明在高温下熔融的Sn35Bi0.3Ag焊料与Cu基体材料发生了互扩散反应,界面区域有明显的IMC层. IMC层以扇形模式生长,如图2b ~ 2d EDS能谱图所示,使用EDS可以明显识别出在Sn35Bi0.3Ag焊料与Cu基体材料之间形成的IMC相. 从分析结果可知,在A点,Cu元素和Sn元素的原子百分比分别62.36%和28.77%. Cu和Sn的比例约为2.2∶1,从Cu-Sn二元合金相图可知,Cu元素与Sn元素在210 ℃时会生成Cu3Sn化合物及Cu6Sn5化合物,因此可推断 A 为 Cu3Sn相与Cu6Sn5相的混合物,其中以Cu3Sn相为主. 在 B 点,Cu 元素、Ag 元素和 Sn 元素的原子百分比分别 43.7%,13.9% 和 34.06%. Cu 和 Sn 的比例约为6∶5,从Ag-Cu二元相图及Ag-Sn二元相图可知,在210 ℃时Ag元素不与Cu元素生成化合物,而Ag元素与Sn元素会生成Ag3Sn化合物,反应时有Ag元素的参与,因此推断B为 Cu6Sn5 相与Ag3Sn相的混合物,其中以 Cu6Sn5 相为主. 根据图2c,同样可以推断C点为Cu6Sn5相和Ag3Sn相的混合物,但Ag3Sn相的含量明显增加,说明Ag元素参与反应,对界面层产生了一定的影响,且发现含有Ag3Sn相处IMC较薄,说明焊接过程中生成的Ag3Sn相会聚集在焊接界面处,从而抑制IMC的生长. 根据图2b ~ 2d能谱分析,靠近Cu基底一侧最终形成了Cu3Sn,而靠近焊料一侧最终形成了Cu6Sn5. 根据扩散理论可知,焊接时,Cu/Sn结合界面会发生相互扩散,Cu向Sn中的扩散速率大于Sn向Cu中的扩散速率[11]. 焊接初始时,Sn35Bi0.3Ag焊料处于熔融状态,Cu会向Sn中扩散从而与Sn发生反应,在Cu/Sn35Bi0.3Ag焊料界面上形成一层扇贝状的Cu6Sn5薄膜. 之后,随着焊接时间的增加,IMC向接头中心移动,Cu6Sn5层厚度增加,Cu向Sn中的扩散速率有所下降,逐渐生成扇贝状的Cu3Sn,如图3所示,显示了焊接过程中IMC层的微观结构演变和生长行为. 在Cu/Sn35Bi0.3Ag界面反应过程中,Cu3Sn的生长对Cu6Sn5有一定的消耗,其反应过程为

      图  2  Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接界面分析(T = 210 ℃, t = 3 min)

      Figure 2.  Analysis of Sn35Bi0.3Ag/Cu welding interface at 210 ℃ and 3 min. (a) microscopic structure; (b) EDS analysis of zone A; (c) EDS analysis of zone B; (d) EDS analysis of zone C

      $$ 6 \mathrm{Cu}+5 \mathrm{Sn} \rightarrow \mathrm{Cu}_6 \mathrm{Sn}_5$$ (1)
      $$\mathrm{Cu}_6 \mathrm{Sn}_5+9 \mathrm{Cu} \rightarrow 5 \mathrm{Cu}_3 \mathrm{Sn} $$ (2)

      图  3  焊接过程中IMC层的微观结构演变和生长行为

      Figure 3.  Microstructure evolution and growth behavior of IMC layers during welding process

      图4为焊接温度210 ℃时不同焊接时间下Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的SEM图像. 表3为设置的焊接时间参数. 从图4中可以发现,随着焊接时间的增加,扇贝状的界面层逐渐变成平面状,且界面层厚度也逐渐增加,如图5展示了焊接时间与焊接界面层厚度的关系. 可以发现,在焊接时间小于3 min时,界面层厚度虽然在增加,但增加的并不明显. 在焊接时间大于3 min时,界面层厚度急剧增加,这是由于Cu原子沿着晶界不断扩散导致的. 据悉,随着焊接时间的增加,Cu6Sn5晶粒以非常快的速度首先在铜基底表面形成,其机制主要由Cu溶解到焊料中随后的化学反应控制[12]. 由于Cu原子沿着晶界的扩散速率较快,Cu6Sn5晶粒以不规则的扇贝形状生长. 随着焊接时间的增加,由于铜原子沿着晶界不断扩散,扇形晶粒变得更大,因而界面层厚度也逐渐增加[13]. 如图4d所示,可以观察到在Sn35Bi0.3Ag/Cu接头Cu3Sn界面层中存在着许多Kirkendall空洞. 这是因为随着焊接时间的增加,IMC层储存着大量的能量,其中一部分能量会在界面反应过程中释放并引入界面,而Cu3Sn相与Cu的热膨胀系数不同且产生了应力集中,从而生成了许多Kirkendall空洞. Wan等人[14]也发现了类似的现象. 如图4e所示,随着焊接温度的升高,在焊接界面处发现了大量的裂纹,这些裂纹在拉伸过程中会作为接头的裂纹源,严重影响接头的力学性能. 先前的研究[15]解释了这些裂纹的形成,即不同的热膨胀系数和应力集中会诱发裂纹的扩展. 此外,在图4e中发现有Ag3Sn的存在,这些Ag3Sn颗粒聚集在焊接界面前面,抑制了Cu3Sn相的生长,提高了接头的力学性能.

      图  4  210 ℃不同焊接时间的Sn35Bi0.3Ag/Cu接头横截面SEM图像

      Figure 4.  SEM images of cross section of Sn35Bi0.3Ag/Cu joints with different welding time at 210 °C. (a) 1 min; (b) 2 min; (c) 3 min; (d) 5 min; (e) 7 min; (f) 9 min

      表 3  焊接时间参数的设置

      Table 3.  Setting of welding time parameters

      预热温度T1/℃预热时间t1/min焊接温度T/℃焊接时间t/min
      12012101, 2, 3, 5, 7, 9

      图  5  焊接时间与焊接界面层厚度的关系

      Figure 5.  Relationship between welding time and welding interface layer thickness

      图6为焊接时间3 min时不同焊接温度下的Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的SEM图像,表4为设置的焊接温度参数. 从图中可以发现,随着焊接温度的提高,界面层厚度逐渐增加,如图7所示. 当焊接温度为210, 230 ℃时,界面层厚度较薄,相对平坦,无缺陷产生;当焊接温度为250, 270 ℃时,界面层逐渐变厚,这可能影响接头的连接强度;当焊接温度为290 ℃时,界面层厚度急剧增加,这可能是因为Cu原子吸收了大量的能量,加快了Cu原子沿晶界的扩散.

      图  6  焊接时间3 min不同焊接温度下的Sn35Bi0.3Ag/Cu接头横截面SEM图像

      Figure 6.  SEM images of Sn35Bi0.3Ag/Cu joints at different welding temperatures for 3 min. (a) 210 ℃; (b) 230 ℃; (c) 250 ℃; (d) 270 ℃; (e) 290 ℃

      表 4  焊接温度参数的设置

      Table 4.  Setting of welding temperature parameters

      预热温度T1/℃预热时间t1/min焊接时间t/min焊接温度T/℃
      12013210, 230, 250, 270, 290

      图  7  焊接温度与焊接界面层厚度的关系

      Figure 7.  Relationship between welding temperature and welding interface layer thickness

    • 图8显示了在210 ℃焊接温度下不同焊接时间的Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的抗剪强度. 可以看出,随着焊接时间的增加,接头的抗剪强度总体上先增加后降低,在焊接时间为3 min时达到最大值,为50.4 MPa. 焊接时间较短时,Sn35Bi0.3Ag/Cu接头的抗剪强度均小于45 MPa,可能是因为焊接时间不足导致IMC层太薄(小于1.4 µm),从而造成焊接不充分. 焊接时,助焊剂会部分挥发并从熔化的焊料中逸出. 然而,当焊接时间太短时,气泡可能会残留在焊料中,没有足够的时间逸出,导致固化后出现大的焊料空洞. 因此,在较短焊接时间条件下,部分接头的抗剪强度可能相对较低,导致较高的误差. 随着焊接时间的增加,气泡完全逸出,因此抗剪强度更加稳定. 当焊接时间超过5 min时,Sn35Bi0.3Ag/Cu接头的抗剪强度随焊接时间的延长呈下降趋势,这表明熔融的焊料焊接时间越长,对接头的可靠性越不利. 这可能与IMC层过厚(大于2.0 µm)及产生的裂纹、空洞有关. 因此,从焊点可靠性角度综合考虑,焊接时间为3 min时最佳.

      图  8  焊接时间与焊接接头抗剪强度的关系

      Figure 8.  Relationship between welding time and shear strength of welded joints

      在焊接时间为3 min的条件下研究了焊接温度与焊接接头的抗剪强度关系,如图9所示. 从图中可以发现,随着温度的增加,Sn35Bi0.3Ag/Cu焊点的抗剪强度稍微有些增加,随后不断下降. 当焊接温度为210 ℃时,接头的抗剪强度为50.4 MPa,在230 ℃时的剪强度最高为51.8 MPa. 而后,随着焊接温度继续升高到290 ℃,接头的剪强度显著下降到29.7 MPa. 这一结果表明,焊接温度显著影响焊接接头的力学性能. 当焊接温度较低时,焊料与基体之间的原子扩散及界面结合所需的能量不足,Sn原子与Cu原子的相互扩散慢,生成的反应中间层的厚度太薄甚至没有,在受到载荷作用时,不能有效的传递外加载荷,导致接头的力学性能较差. 而过高的焊接温度导致焊接所生成的反应中间层过厚,界面层中的IMC变得粗大,容易在界面产生较大的残余应力,在焊缝中容易产生裂纹、气孔等缺陷,对接头的性能产生不利影响,导致焊接接头抗剪强度的下降. 因此,综合考虑焊接温度对焊接接头强度的影响,设置焊接温度为230 ℃较为合适.

      图  9  焊接温度与焊接接头抗剪强度的关系

      Figure 9.  Relationship between welding temperature and shear strength of welded joints

      为了进一步探究焊接时间对焊接接头抗剪强度的影响,对焊接接头的断口形貌进行了分析. 图10显示了不同焊接时间下的Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头断口显微组织. 从图中可以发现,虽然焊接时间不同,但开裂部位和断口形貌差别不是很大. 从图10a中可以发现,断口形貌在宏观上看相对平整,说明焊接接头是从Cu/IMC/焊料一侧发生的断裂. 这是因为焊料与界面之间在力学性能方面有很大的差异,界面处不同的热膨胀系数和应力集中导致界面处的断裂. 对断口基体及附着上面的颗粒进行EDS能谱分析可知,断口基体为Sn基(Sn的原子占比为93.79%),附着在上面的颗粒为Cu6Sn5(Cu, Sn原子占比分别为47.8%和45.0%,原子比近似为6∶5),说明焊接接头是从IMC/焊料一侧发生的断裂. 同样,其断口形貌上也附着一些Bi相颗粒,它的存在导致了接头脆性断裂的产生. 随着焊接时间的增加(小于3 min),断口处的脆性断裂程度有所下降,断口表面留下的空穴有所增加(Cu6Sn5晶粒被拉出引起的). 这说明随着焊接时间的增加(小于3 min),由Bi相颗粒引起的断裂有所下降,Cu6Sn5晶粒引起的断裂有所增加,且Cu6Sn5晶粒的抗拉强度高于Bi相颗粒的抗拉强度,因此也从侧面反映了焊接接头抗剪强度提高的原因. 随着焊接时间的继续增加,由Bi相颗粒引起的脆性断裂程度有所增加,且在断口表面留下的空穴尺寸也有所增大(Cu6Sn5晶粒的尺寸变得粗大引起的),这两方面的共同作用降低了焊接接头的抗剪强度. 根据上述结果和讨论可知,焊接接头的断裂发生在IMC/焊料一侧,且当焊接时间为3 min时,焊接接头断口的脆性断裂特征最少,Cu6Sn5晶粒引起的断裂特征较多,因而提高了焊接接头的抗剪强度.

      图  10  210 ℃不同焊接时间下Sn35Bi0.3Ag/Cu接头的断口形貌

      Figure 10.  Fracture morphology of Sn35Bi0.3Ag/Cu joints welded at 210 ℃ for different time. (a) 1 min; (b) 2 min; (c) 3 min; (d) 5 min; (e) 7 min; (f) 9 min

      图11为焊接时间为3 min时不同焊接温度下的焊接接头断口显微组织. 从图中可以发现,焊接接头断口表面具有附着的Bi颗粒及Cu6Sn5颗粒,这两方面的共同作用导致了焊接接头的断裂. 当焊接温度为210 ℃时,断口表面存在较多Bi颗粒及少量的Cu6Sn5颗粒. 在230 ℃时,断口表面附着的Bi颗粒有所减少,由Cu6Sn5颗粒被拉伸引起的空穴有所增加. 这是因为当焊接温度较低时,焊料与基体之间的原子扩散及界面结合所需的能量不足,Sn原子与Cu原子的相互扩散慢,生成的反应中间层(Cu6Sn5)的厚度太薄甚至没有,因而由Cu6Sn5引起的拉伸断裂特征相对较少. 从图11c ~ 11e中可以发现,接头断口处的空穴尺寸明显增大. 这是因为随着焊接温度的继续增加,焊接能量增加,Sn原子与Cu原子的相互扩散速率增加,生成的反应中间层过厚,界面层中的IMC变得粗大,因而对接头的性能产生不利影响,导致焊接接头抗剪强度的下降. 通过分析发现,断口形貌特征与焊接接头抗剪强度相吻合. 因此,综合考虑焊接温度对焊接接头强度的影响,设置焊接温度为230 ℃较为合适.

      图  11  焊接时间3 min不同焊接温度下Sn35Bi0.3Ag/Cu接头的断口形貌

      Figure 11.  Fracture morphology of Sn35Bi0.3Ag/Cu joints at different welding temperatures and welding time of 3 min. (a) 210 ℃; (b) 230 ℃; (c) 250 ℃; (d) 270 ℃; (e) 290 ℃

    • 图12显示了210 ℃不同焊接时间下的Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的超声无损检测图像,图中蓝色区域表示焊接良好,空白区域表示有焊接缺陷. 从图中可以看出,每一个焊接接头都有少量的缺陷,这可能是由于扩散时产生的气体及夹杂引起的. 图13显示了焊接时间与钎着率的关系. 可以发现,随着焊接时间的增加,Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的钎着率总体上先增加后降低. 当焊接时间为1 min时,Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的钎着率为97.4%,当焊接时间为3 min时,接头的钎着率最高,为98.92%,随着焊接时间的继续增加,接头的钎着率降至92.7%. 焊接时,助焊剂会部分挥发并从熔化的焊料中逸出,然而,当焊接时间太短时(小于3 min),气泡可能会残留在焊料中,没有足够的时间逸出,导致固化后出现大的焊料空洞,因而钎着率较低. 随着焊接时间的增加,气泡完全逸出,接头钎着率升高. 当焊接时间过长时(大于3 min),会导致焊接所生成的反应中间层过厚,界面层中的IMC变得粗大,容易在界面产生较大的残余应力,在焊缝中容易产生裂纹、气孔等缺陷,从而降低了接头的钎着率. 表5显示了不同焊接时间下接头钎着率与抗剪强度的关系. 可以看出,随着焊接时间的增加,接头的钎着率与抗剪强度都是先升高后降低,这表明接头的钎着率对抗剪强度有很大影响. 综合考虑,焊接时间为3 min时较好.

      图  12  焊接温度210 ℃不同焊接时间时Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的超声无损检测图像

      Figure 12.  Ultrasonic nondestructive testing images of Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joints with different welding time at 210 ℃. (a) 1 min; (b) 2 min; (C) 3 min; (d) 5 min; (e) 7 min; (f) 9 min

      图  13  焊接时间与焊接接头钎着率的关系

      Figure 13.  Relationship between welding time and brazing rate of welded joints

      表 5  不同焊接时间下钎着率与抗剪强度的关系

      Table 5.  Relationship between brazing rate and shear strength at different welding times

      焊接温度t/min钎着率K(%)抗剪强度Rτ/MPa
      197.430.0
      297.542.2
      398.950.4
      594.546.0
      793.741.6
      992.726.3

      对不同焊接温度下的焊接接头进行超声无损检测,如图14所示. 可以发现,随着焊接温度的升高,焊接接头里的空白区域先减少后增加. 将其用钎着率表示,如图15所示. 当焊接温度为210 ℃时,钎着率为98.92%;当焊接温度为230 ℃时,钎着率稍微得到了提高,为99.14%,可能是因为焊接温度提高,接头中的助焊剂会完全挥发并从熔化的焊料中逸出,且焊接时焊料的流动性较好. 之后,随着焊接温度的升高,钎着率随之下降,当焊接温度达到290 ℃时,从图14e中可以看出,空白区域非常多,钎着率为90.36%,焊接质量较差. 这可能是因为高温时Cu和Sn在焊接过程中扩散速率不同导致某些空位聚集,这些空位会生长成孔洞,且高温时容易导致焊料的流失以及助焊剂的挥发和分解过于剧烈,在焊缝中容易产生气孔等缺陷,使得接头组织的致密度降低,从而对接头性能的提高产生不利影响,导致钎焊接头抗剪强度的下降. 表6显示了不同焊接温度下钎着率与抗剪强度的关系. 从表中可以看出,随着焊接温度的提高,钎着率与抗剪强度都得到提高,在230 ℃时达到最大值,之后随着温度的提高均下降. 这表明,焊接温度对钎着率、抗剪强度有显著的影响,且钎着率对抗剪强度有一定的影响. 因此,综合考虑焊接温度对钎着率、抗剪强度的影响,焊接温度为230 ℃时焊接性能最佳.

      图  14  焊接时间3 min不同焊接温度下的Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头的超声无损检测图像

      Figure 14.  Ultrasonic nondestructive testing images of Sn35Bi0.3Ag/Cu welded joints at different welding temperatures for welding time of 3 min. (a) 210 °C; (b) 230 °C; (c) 250 °C; (d) 270 °C; (e) 290 °C

      图  15  焊接温度与焊接接头钎着率的关系

      Figure 15.  Relationship between welding temperature and brazing rate of welded joints

      表 6  不同焊接温度下钎着率与抗剪强度的关系

      Table 6.  Relationship between brazing rate and shear strength at different welding temperatures

      焊接温度T/℃钎着率K(%)抗剪强度Rτ/MPa
      21098.9250.4
      23099.1451.8
      25098.4945.8
      27096.5835.0
      29090.3629.7
    • (1) Sn35Bi0.3Ag/Cu焊接接头中的IMC包括Cu6Sn5, Cu3Sn, Ag3Sn. IMC层厚度随着焊接时间和焊接温度的增加而增加. 随着IMC层厚度的增加,抗剪强度先增大后减小. 在焊接温度230 ℃、焊接时间3 min时获得最大抗剪强度(51.8 MPa),其中生成的Ag3Sn相可以抑制Cu3Sn相的生长,提高接头的力学性能.

      (2)不同焊接参数下接头的钎着率不同. 随着焊接温度和焊接时间的增加,钎着率均先增加后减少,焊接温度为230 ℃、焊接时间为3 min时,焊接接头的钎着率最大,为99.14%.

      (3)在焊接时间短、焊接温度低的情况下,界面反应不充分,IMC厚度较薄,抗剪强度低. 当时间和温度适中时,接头强度由钎着率及IMC厚度决定. 进一步延长焊接时间和提高焊接温度,钎着率较低,IMC层厚度较厚,且会在界面层产生Kirkendall空洞和裂纹,影响接头的抗剪强度.

      (4)对焊接接头断口形貌分析发现,焊接接头的断裂由Bi相颗粒及Cu6Sn5颗粒共同作用. 当焊接时间较短或焊接温度较低时,由Bi相引起的脆性断裂特征较多. 而当焊接时间过长或焊接温度较高时,IMC层厚度较厚,Cu6Sn5颗粒尺寸较为粗大,严重影响焊接接头的抗剪强度. 综合考虑焊接时间及焊接温度对接头性能的影响,当焊接时间为3 min、焊接温度为230 ℃时,接头的抗剪强度最佳.

参考文献 (15)

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